Tek katlı ince palladyum filmlerinin özdirencine film kalınlığı ve sıcaklığın etkileri

Basit Öğe Kaydı
dc.contributor.advisorArtunç, Nurcan
dc.contributor.authorTütüncü, Şerife
dc.date.accessioned2024-08-19T19:39:57Z
dc.date.available2024-08-19T19:39:57Z
dc.date.issued1996
dc.departmentEge Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsüen_US
dc.descriptionBu tezin, veri tabanı üzerinden yayınlanma izni bulunmamaktadır. Yayınlanma izni olmayan tezlerin basılı kopyalarına Üniversite kütüphaneniz aracılığıyla (TÜBESS üzerinden) erişebilirsiniz.en_US
dc.description.abstractIV ÖZET TEK KATLI İNCE PALLADYUM FÎLMLERÎN ÖZDÎRENCÎNE FÎLM KALINLI?I VE SICAKLI?IN ETKlLERÎ TÜTÜNCÜ, Şerife Yüksek Lisans Tezi, Fizik Bölümü Tez Yöneticisi: Doç.Dr.Nurcan Artunç Temmuz 1996, 44 sayfa Bu çalışmada, 100-300 K sıcaklık aralığında, kalınlıkları 6.7-56.5 nm arasında değişen tek katlı polikristal palladyum filmlerin özdirencinin film kalınlığına ve sıcaklığa bağlı değişimi incelenmiştir. Ölçüm sonuçlan, Pd film örneklerin özdirencinin sıcaklıkla ve azalan film kalınlığı ile arttığını ortaya koymuştur. Özdirenç verileri Mayadas-Shatzkes'in tanecik-sınır saçılma modeli ile analizlenmiştir. Analiz sonuçlarından, çalışılan tüm sıcaklık ve film kalınlığı aralığı için, tanecik sınırlarından saçılan elektronların ortalama yansıma katsayısı değeri R=0.81 olarak hesaplanmıştır. Elektronların ortalama yansıma katsayısının deneysel değeri ise R=0.80 olarak bulunmuştur. Anahtar kelimeler: Tanecik-sınır saçılması, elektriksel özdirençen_US
dc.description.abstractABSTRACT THE EFFECTS OF FILM THICKNESS AND TEMPERATURE ON THE ELECTRICAL RESISTIVITY OF SINGLE-LAYERED THIN PALLADIUM FILMS TÜTÜNCÜ, Şerife Thesis of MSc in Science Supervisor: Assoc. Prof. Dr. Nurcan Artunç July 1996, 44 pages The temperature and thickness dependence of the electrical resistivity of the single-layered palladium films of which have thicknesses of 6.7-56.5 nm is studied in the temperature range from 100 to 300 K. The resistivity measurements have shown that the electrical resistivity of Pd films increases with both temperature and decreasing film thickness. The resistivity data have been analysed solely in terms of grain-boundary scattering model of Mayadas and Shatzkes. From our analysis, the average reflection coefficient R of the electrons scattered by the grain boundaries is derived to be 0.81 over the whole temperature and thickness range studied. It is found an experimental value of reflection coefficient R=0.80. Key words: Grain-boundary scattering, electrical resistivityen_US
dc.identifier.endpage41en_US
dc.identifier.startpage1en_US
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/11454/85344
dc.identifier.yoktezid50623en_US
dc.language.isotren_US
dc.publisherEge Üniversitesien_US
dc.relation.publicationcategoryTezen_US
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/closedAccessen_US
dc.subjectFizik ve Fizik Mühendisliğien_US
dc.subjectPhysics and Physics Engineeringen_US
dc.subjectPalladyumen_US
dc.subjectPalladiumen_US
dc.subjectÖz dirençen_US
dc.subjectResistivityen_US
dc.subjectİnce filmleren_US
dc.subjectThin filmsen_US
dc.titleTek katlı ince palladyum filmlerinin özdirencine film kalınlığı ve sıcaklığın etkilerien_US
dc.typeMaster Thesisen_US

Dosyalar

Koleksiyon

Fen Bilimleri Enstitüsü Tez Koleksiyonu