Tek katlı ince palladyum filmlerinin özdirencine film kalınlığı ve sıcaklığın etkileri
Küçük Resim Yok
Tarih
1996
Yazarlar
Dergi Başlığı
Dergi ISSN
Cilt Başlığı
Yayıncı
Ege Üniversitesi
Erişim Hakkı
info:eu-repo/semantics/closedAccess
Özet
IV ÖZET TEK KATLI İNCE PALLADYUM FÎLMLERÎN ÖZDÎRENCÎNE FÎLM KALINLI?I VE SICAKLI?IN ETKlLERÎ TÜTÜNCÜ, Şerife Yüksek Lisans Tezi, Fizik Bölümü Tez Yöneticisi: Doç.Dr.Nurcan Artunç Temmuz 1996, 44 sayfa Bu çalışmada, 100-300 K sıcaklık aralığında, kalınlıkları 6.7-56.5 nm arasında değişen tek katlı polikristal palladyum filmlerin özdirencinin film kalınlığına ve sıcaklığa bağlı değişimi incelenmiştir. Ölçüm sonuçlan, Pd film örneklerin özdirencinin sıcaklıkla ve azalan film kalınlığı ile arttığını ortaya koymuştur. Özdirenç verileri Mayadas-Shatzkes'in tanecik-sınır saçılma modeli ile analizlenmiştir. Analiz sonuçlarından, çalışılan tüm sıcaklık ve film kalınlığı aralığı için, tanecik sınırlarından saçılan elektronların ortalama yansıma katsayısı değeri R=0.81 olarak hesaplanmıştır. Elektronların ortalama yansıma katsayısının deneysel değeri ise R=0.80 olarak bulunmuştur. Anahtar kelimeler: Tanecik-sınır saçılması, elektriksel özdirenç
ABSTRACT THE EFFECTS OF FILM THICKNESS AND TEMPERATURE ON THE ELECTRICAL RESISTIVITY OF SINGLE-LAYERED THIN PALLADIUM FILMS TÜTÜNCÜ, Şerife Thesis of MSc in Science Supervisor: Assoc. Prof. Dr. Nurcan Artunç July 1996, 44 pages The temperature and thickness dependence of the electrical resistivity of the single-layered palladium films of which have thicknesses of 6.7-56.5 nm is studied in the temperature range from 100 to 300 K. The resistivity measurements have shown that the electrical resistivity of Pd films increases with both temperature and decreasing film thickness. The resistivity data have been analysed solely in terms of grain-boundary scattering model of Mayadas and Shatzkes. From our analysis, the average reflection coefficient R of the electrons scattered by the grain boundaries is derived to be 0.81 over the whole temperature and thickness range studied. It is found an experimental value of reflection coefficient R=0.80. Key words: Grain-boundary scattering, electrical resistivity
ABSTRACT THE EFFECTS OF FILM THICKNESS AND TEMPERATURE ON THE ELECTRICAL RESISTIVITY OF SINGLE-LAYERED THIN PALLADIUM FILMS TÜTÜNCÜ, Şerife Thesis of MSc in Science Supervisor: Assoc. Prof. Dr. Nurcan Artunç July 1996, 44 pages The temperature and thickness dependence of the electrical resistivity of the single-layered palladium films of which have thicknesses of 6.7-56.5 nm is studied in the temperature range from 100 to 300 K. The resistivity measurements have shown that the electrical resistivity of Pd films increases with both temperature and decreasing film thickness. The resistivity data have been analysed solely in terms of grain-boundary scattering model of Mayadas and Shatzkes. From our analysis, the average reflection coefficient R of the electrons scattered by the grain boundaries is derived to be 0.81 over the whole temperature and thickness range studied. It is found an experimental value of reflection coefficient R=0.80. Key words: Grain-boundary scattering, electrical resistivity
Açıklama
Bu tezin, veri tabanı üzerinden yayınlanma izni bulunmamaktadır. Yayınlanma izni olmayan tezlerin basılı kopyalarına Üniversite kütüphaneniz aracılığıyla (TÜBESS üzerinden) erişebilirsiniz.
Anahtar Kelimeler
Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering, Palladyum, Palladium, Öz direnç, Resistivity, İnce filmler, Thin films
