Optik yüzeyler için ince film yansıtmaz kaplamalar
| dc.contributor.author | Girgin Kavaklı, İpek | |
| dc.contributor.author | Kantarlı, Kayhan | |
| dc.date.accessioned | 2024-08-21T18:30:13Z | |
| dc.date.available | 2024-08-21T18:30:13Z | |
| dc.date.issued | 1997 | en_US |
| dc.department | Ege Üniversitesi, Fen Fakültesi, Fizik Bölümü | en_US |
| dc.description | Araştırma Projesi -- Ege Üniversitesi, 1997 | en_US |
| dc.description.abstract | Bu çalışmada cam ve silisyum yüzeyleri üzerindeki tek ve iki katmanlı ince film yansıtmaz kaplamaların optik özellikleri incelendi. İnce film kaplamalar uygun kırılma indisine sahip malzemelerin vakumda buharlaştırılmasıyla elde edildi. Örneklerin işle görecekleri spektral bölgedeki reflektansları ölçülerek kaplanmamış yüzeylerin reflektans spektrumlarıyla karşılaştırıldı. Sonuçlar katmanların kırılma indisi ve optik kalınlığı göz önüne alınarak tartışıldı. | en_US |
| dc.identifier.endpage | 61 | en_US |
| dc.identifier.startpage | 1 | en_US |
| dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/11454/92100 | |
| dc.language.iso | tr | en_US |
| dc.publisher | Ege Üniversitesi | en_US |
| dc.relation.bap | 95 Fen 041 | en_US |
| dc.relation.publicationcategory | Araştırma Projesi | en_US |
| dc.rights | info:eu-repo/semantics/closedAccess | en_US |
| dc.snmz | 20240821 | en_US |
| dc.title | Optik yüzeyler için ince film yansıtmaz kaplamalar | en_US |
| dc.type | Project | en_US |
