Süreç yeterliliği: Ters çevrilmiş normal kayıp fonksiyonu için yeni bir kriter
| dc.contributor.author | Zeybek, Melis | |
| dc.date.accessioned | 2024-08-21T18:30:15Z | |
| dc.date.available | 2024-08-21T18:30:15Z | |
| dc.date.issued | 2019 | en_US |
| dc.department | Ege Üniversitesi, Fen Fakültesi, İstatistik Bölümü | en_US |
| dc.description | Araştırma projesi -- Ege Üniversitesi, 2019 | en_US |
| dc.description.abstract | Yanıt yüzey metodolojisi (RSM), kalite mühendisleri tarafından oldukça tercih edilen bir yöntem olarak, arzu edilen süreç kalitesine ulaşmak için doğal ve etkin bir araçtır. Süreç kalitesi üzerine birçok çalışma, bir sürecin ne kadar iyi ya da kötü olduğu ve aynı zamanda süreç performans derecesi hakkında bilgi vermeye odaklanmamaktadır. Diğer taraftan, süreç performans kriterleri bir sürecin yeterliliğini tahmin etme özelliğine sahip olsa da, red ve kayıp oranları ile süreç kalitesi arasında önemli miktarda bilgi sağlayamamaktadır. Bu çalışma, iki kavramı göz önüne alır ve ters çevrilmiş normal kayıp fonksiyonu (UDNLF) için süreç yeterliliği indekslerine dayalı bir kriter tanımlar. Önerilen yaklaşım, cP ve Cpm indekslerine ile tanımlanmış beklenen UDNLF' yi minimize ederek, bir sürecin optimal çözümünü belirler. Önerilen yöntem ve avantajları bir örnek üzerinde gösterilmiştir.;Dayanıklı Tasarım, Yanıt Yüzey Metodolojisi, Kayıp Fonksiyonu, Süreç Yeterlilik İndeksleri.;Robust Design, Response Surface Methodology, Loss Function, Process Capability Indices. | en_US |
| dc.identifier.uri | http://155.223.63.101/tez3/2017fen055.pdf | en_US |
| dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/11454/92125 | |
| dc.language.iso | tr | en_US |
| dc.publisher | Ege Üniversitesi | en_US |
| dc.relation.bap | 17-FEN-055 | en_US |
| dc.relation.publicationcategory | Araştırma Projesi | en_US |
| dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | en_US |
| dc.snmz | 20240821 | en_US |
| dc.title | Süreç yeterliliği: Ters çevrilmiş normal kayıp fonksiyonu için yeni bir kriter | en_US |
| dc.type | Project | en_US |
Dosyalar
Orijinal paket
1 - 1 / 1
