Seyreltik Cr-Re ve Cr-Si ikili alaşımlarında özdirencin sıcaklıkla değişimi
Küçük Resim Yok
Dosyalar
Tarih
1976
Yazarlar
Dergi Başlığı
Dergi ISSN
Cilt Başlığı
Yayıncı
Ege Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü
Erişim Hakkı
info:eu-repo/semantics/closedAccess
Özet
%0.56, 2.45, 5.05, 6.52, 10.70 VE 13.07 atomsal oranlarda renyum içeren Cr-Re ve %0.46, 0.90, 1.37, 1.85 ve 2.74 oransal oranda silisyum içeren Cr-Si 2li alaşımlarında öz direncin sıcaklığa bağlı değişimi sırasıyla 77-750oK ve 77.320oK aralığında incelenmiştir. Cr-Re 2li alaşımlarında TN neel sıcaklığı önce, artan renyum konsantrasyonuyla %5.05 at. Re'a kadar artmaktadır. Konsantrasyon daha fazla artmasına karşılık TN nin değeri bundan bağımsız kalmakta ve %10.70 at. Re'dan büyük değerleri için azalmaktadır. Neel sıcaklığının konsantrasyonuna bağlı değişim Fedders ve Martin ile Falicov ve Penn in teorik modelleriyle kısmen açıklanmalıdır. TN manyetik geçiş sıcaklığının altında, anormalliklerin büyüklüğü veya delta nü/nü p oransal özdirenç değişiminin değeri, antiferromanyetik krpmun BCS_tipi enerji çukurları açısından açıklanmaktadır. Neel sıcaklığının altında ve üstünde kritik eksponentlerin ayrıntılı bir analizi yapılmış olup bu eksponentlerin değerleri elde edilmiştir. Bunların değerleri TN 0,13 den 0,78 e ve üstünde 0,04 den 0,68 e kadar bir değişim aralığı göstermektedir. Bu değerler mevcut teorilerin belirttiği sonuçlarla bir uyum göstermekte olup konsantrasyona olan bağlılığı için bir yorum olanaksızdır. Cr-Si 2 li alışıklarında ise TN nin değeri artan silisyum konsantrasyonuyla azalmaktadır. Bu değişim Cr-Re olduğu gibi mevcut aynı modellerle açıklanmaktadır. %1.37 at. Si ve bunun üzerindeki konsantrasyonlarda bir takım anormallikler görülmektedir. %1.37 anormallik belirmekte ve bunlardan 1. standart antiferro-para manyetik faz geçişiyle daha çok bağdaşmaktadır. Histerezis biçimindeki anormallikler için bir yorum verilmemektedir.
Açıklama
Anahtar Kelimeler
Anahtar kelime mevcut olmadığı için bu alan boş bırakılmıştır.
