Çeliktaş, CüneytSelvi, Saim2024-08-212024-08-211995https://hdl.handle.net/11454/92068Araştırma Projesi -- Ege Üniversitesi, 1995Bu çalışmada standart kaynaklardan elde edilen beta parçacıkları kullanılmıştır. Kaynakların spektrumlarının belirlenmesi, beta parçacıklarının enerjilerine ve kaynak-detektör arasına yerleştirilen Si levha kalınlıklarına -200æm' den itibaren - göre tespit edilmiştir. Si tabakadan çeşitli açılarda saçılan betaların bulunmasıyla saçılan betaların açısal dağılımları ve saçılmaların beta spektrumlarına etkisi araştırılmıştır. Yüzey engelli detektörlerin beta parçacıklarının ölçülmesindeki etkinliğini araştırmak ve çeşitli enerjilerdeki beta parçacıklarının malzeme içindeki menzili kadar kalınlıkta olan detektörün verdiği spektrumları karşılaştırmak ayrıca amaç edinilmiştir. Beta parçacıklarının spektrumlarının deneysel değerlerinin teorik olarak da incelenmesi, deneysel verilerin doğrulanmasını ve teorik yöntemin desteklenmesini sağlamıştır. Beta enerjisine bağlı olarak iyi bir beta spektrumu elde etmek amacıyla beta parçacıkları için verimi %90 civarında olan YED'ler elektronik olarak gürültüden arındırılmıştır. Bu çalışma ile iyi spektrumlar ve sonuçların alınmasında detektör gürültüsünün önemli bir rolü oynadığını ve bu gürültü miktarının soğutma ile azaltılmasının deneysel verilere dikkate değer düzeyde etkidiği görülmüştür.trinfo:eu-repo/semantics/closedAccessSi'dan geçen ve saçılan beta parçacıklarının spektrumunun yüzey engelli detektör ile incelenmesiProject146