Process capability: A New Criterion for Loss Function–Based Quality Improvement
Küçük Resim Yok
Tarih
2018
Yazarlar
Dergi Başlığı
Dergi ISSN
Cilt Başlığı
Yayıncı
Erişim Hakkı
info:eu-repo/semantics/openAccess
Özet
Response surface methodology (RSM) – the method most preferred by quality engineers – is a natural and effective tool to achieve the desired process quality. Most of the current literature on process quality does not focus on information relating to how much better or worse a process is and also the degree of the process performance. on the other hand, although the process performance criteria are able to predict process capability, they cannot provide significant information relating to the process quality in terms of rate of rejects and losses. Therefore, this paper takes into account these two concepts and defines a criterion based on the process capability indices for the upside-down normal loss function (UDNLF). the proposed approach determines the optimal settings of a given process by minimizing the expected UDNLF which is defined in terms of ???? and ?????? indices. the proposed procedure and its merits are illustrated on the basis of an example.
Yanıt yüzey metodolojisi (RSM), kalite mühendisleri tarafından oldukça tercih edilen bir yöntem olarak, arzu edilen süreç kalitesine ulaşmak için doğal ve etkin bir araçtır. Süreç kalitesi üzerine birçok çalışma, bir sürecin ne kadar iyi ya da kötü olduğu ve aynı zamanda süreç performans derecesi hakkında bilgi vermeye odaklanmamaktadır. Diğer taraftan, süreç performans kriterleri bir sürecin yeterliliğini tahmin etme özelliğine sahip olsa da, red ve kayıp oranları ile süreç kalitesi arasında önemli miktarda bilgi sağlayamamaktadır. Bu çalışma, iki kavramı göz önüne alır ve ters çevrilmiş normal kayıp fonksiyonu (UDNLF) için süreç yeterliliği indekslerine dayalı bir kriter tanımlar. Önerilen yaklaşım, ???? ve ?????? indekslerine ile tanımlanmış beklenen UDNLF’ yi minimize ederek, bir sürecin optimal çözümünü belirler. Önerilen yöntem ve avantajları bir örnek üzerinde gösterilmiştir.
Yanıt yüzey metodolojisi (RSM), kalite mühendisleri tarafından oldukça tercih edilen bir yöntem olarak, arzu edilen süreç kalitesine ulaşmak için doğal ve etkin bir araçtır. Süreç kalitesi üzerine birçok çalışma, bir sürecin ne kadar iyi ya da kötü olduğu ve aynı zamanda süreç performans derecesi hakkında bilgi vermeye odaklanmamaktadır. Diğer taraftan, süreç performans kriterleri bir sürecin yeterliliğini tahmin etme özelliğine sahip olsa da, red ve kayıp oranları ile süreç kalitesi arasında önemli miktarda bilgi sağlayamamaktadır. Bu çalışma, iki kavramı göz önüne alır ve ters çevrilmiş normal kayıp fonksiyonu (UDNLF) için süreç yeterliliği indekslerine dayalı bir kriter tanımlar. Önerilen yaklaşım, ???? ve ?????? indekslerine ile tanımlanmış beklenen UDNLF’ yi minimize ederek, bir sürecin optimal çözümünü belirler. Önerilen yöntem ve avantajları bir örnek üzerinde gösterilmiştir.
Açıklama
Anahtar Kelimeler
Tarımsal Ekonomi ve Politika, Ziraat Mühendisliği, Bahçe Bitkileri, Bitki Bilimleri, Ziraat, Toprak Bilimi, Biyoloji Çeşitliliğinin Korunması, Biyoloji, Kimya, Analitik, Kimya, Uygulamalı, Kimya, İnorganik ve Nükleer, Kimya, Tıbbi, Kimya, Organik, Fizikokimya, Ekoloji, Entomoloji, Çevre Bilimleri, Genetik ve Kalıtım, Limnoloji, Deniz ve Tatlı Su Biyolojisi, Matematik, Mantar Bilimi, Kuş Bilimi, Fizik, Uygulamalı, Fizik, Atomik ve Moleküler Kimya, Fizik, Katı Hal, Fizik, Akışkanlar ve Plazma, Fizik, Matematik, Fizik, Nükleer, Fizik, Partiküller ve Alanlar, İstatistik ve Olasılık, Su Kaynakları, Zooloji, Mimarlık, Hücre ve Doku Mühendisliği, Bilgisayar Bilimleri, Yapay Zeka, Bilgisayar Bilimleri, Sibernitik, Bilgisayar Bilimleri, Donanım ve Mimari, Bilgisayar Bilimleri, Bilgi Sistemleri, Bilgisayar Bilimleri, Yazılım Mühendisliği, Bilgisayar Bilimleri, Teori ve Metotlar, İnşaat ve Yapı Teknolojisi, Savunma Bilimleri, Enerji ve Yakıtlar, Mühendislik, Hava ve Uzay, Mühendislik, Kimya, İnşaat Mühendisliği, Mühendislik, Elektrik ve Elektronik, Çevre Mühendisliği, Mühendislik, Jeoloji, Endüstri Mühendisliği, İmalat Mühendisliği, Mühendislik, Makine, Gıda Bilimi ve Teknolojisi, Orman Mühendisliği, Jeokimya ve Jeofizik, Jeoloji, Görüntüleme Bilimi ve Fotoğraf Teknolojisi, Malzeme Bilimleri, Biyomalzemeler, Malzeme Bilimleri, Seramik, Malzeme Bilimleri, Özellik ve Test, Malzeme Bilimleri, Kaplamalar ve Filmler, Malzeme Bilimleri, Kompozitler, Malzeme Bilimleri, Kâğıt ve Ahşap, Malzeme Bilimleri, Tekstil, Metalürji Mühendisliği, Maden İşletme ve Cevher Hazırlama, Nanobilim ve Nanoteknoloji, Nükleer Bilim ve Teknolojisi, Robotik, Telekomünikasyon, Taşınım Bilimi ve Teknolojisi
Kaynak
Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi
WoS Q Değeri
Scopus Q Değeri
Cilt
22
Sayı
Özel
