Polikristal tek katlı gümüş ve iki katlı gümüş-krom filmlerin elektriksel özellikleri
Yükleniyor...
Dosyalar
Tarih
2004
Yazarlar
Dergi Başlığı
Dergi ISSN
Cilt Başlığı
Yayıncı
Ege Üniversitesi
Erişim Hakkı
info:eu-repo/semantics/openAccess
Özet
Kalınlıkları 9.0 nm ile 286.0 nm arasında değişen tek katlı polikristal Ag filmlerin toplam özdirençleri 90-300 K aralığında sıcaklığın fonksiyonu olarak çalışılmıştır. Özdirencin sıcaklıkla değişimi verileri, tek katlı Ag filmlerin özdirençlerinin hacimli Agʼ ün özdirencinden daha büyük olduğunu ve bu artışın azalan film kalınlığı ile arttığını göstermiştir. Analiz sonuçlarımız, özdirenç artışının tanecik sınır saçılmasından kaynaklandığını ve özdirenç verilerinin Mayadas-Shatzkes (M-S) modeli ile analizlenebileceğini göstermiştir. R yansıma katsayısının azalan teorik değeri tüm sıcaklık ve kalınlık bölgesi üzerinden ortalama alınarak 0.32, deneysel değeri ise 0.35 olarak hesaplandı. R yansıma katsayısının azalan film kalınlığı ve sıcaklıkla yavaşça arttığı bulundu. R ʼnin bu değişimi, azalan film kalınlığı ile tanecik sınır saçılmasının arttığını doğrulamaktadır. Kalınlıkları 9.0 ve 99.0 nm olan Ag taşıyıcı filmler üzerine sırasıyla kalınlıkları 11.0-27.0 nm ve 26.0-56.0 nm arasında değişen Cr filmlerin kaplanmasıyla elde edilen iki farklı seri polikristal Ag-Cr filmlerin özdirenç ölçümleri de 90-300 K sıcaklık aralığında gerçekleştirildi. İki katlı Ag-Cr filmlerin özdirencinin aynı kalınlıktaki Ag-taşıyıcı filmlere göre daha büyük olduğu ve bu artışın taşıyıcı filmin azalan kalınlığı ile arttığı bulundu. Analiz sonuçlarımız taşıyıcı Ag filminkine göre gözlenen bu artışın, artan tanecik-sınır saçılmasından ve Cr ʼun safsızlık etkisiyle artan kalıcı özdirençden kaynaklandığını ve ara yüzey saçılmasının sorumlu olmadığını göstermiştir. R yansıma katsayısının tüm sıcaklık ve kalınlık aralığı üzerinden ortalama değeri 0.46 ve deneysel değeri 0.45 olarak bulundu. Crʼ un kaplanmasıyla, tek katlı Ag filmlerin ortalama R değeri 0.32 ʼden 0.46 değerine yükselmiştir. Bu sonuç, iki katlı filmlerde Cr ʼun kaplanması ile tanecik sınır saçılmasının önemli ölçüde arttığının ve bu filmlerin toplam özdirençlerinde baskın bir mekanizma olduğunun bir göstergesidir. R yansıma parametresinin taşıyıcı-Ag filmin azalan kalınlığı ile yavaşça arttığı bulunmuştur.
Açıklama
Anahtar Kelimeler
Elektriksel özdirenç, Tanecik-sınır saçılması, R yansıma katsayısı, Electrical resistivity, grain-boundary scattering, R reflection coefficient, Fizik A.B.D.
